日本J-RAS絕緣劣化試驗

日本J-RAS絕緣劣化試驗

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經過長時間的測試（1 ～1000  小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ）, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

產品優勢  

1.簡單/便利

△采用驅動計測，測試時焊接工序大幅減少。

△軟件設計簡單明了，能夠非常直觀得操作。

△配有過程中的記錄、報告相關的報表功能。

△測試中，設備可以單獨運行，電腦電源切斷也不受影響。

2.高性能&高機能

△因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路，可以做到16ms的計測間隔。

→遷移現象的檢測能力更高，對產品品質把控更精準。

△一臺電腦最大可以增設400通道。

△每個通道可以設定不同的電壓。

3.可靠性更高&操作更簡潔

△具有自身診斷機能，把異常計測防范于未然。

△配有CF卡，以防設備故障數據丟失。

△每個單元獨立，其中一個單元損壞，可以單獨拆卸維修，而不影響其他通道使用。

△標準配置也可以接入1~300V的電壓范圍。

用途

△PCB板、焊接、樹脂、導電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。

△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置，可以在多領域利用。

實例

△測試難度大的高阻值也能除去干擾，清晰得進行測試。

△16msec的高速抽樣處理，不會漏掉任何一個數據。

△電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。

日本J-RAS絕緣劣化試驗